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1. 选择序列的并行折叠计数器

李扬梁华国蒋翠云常郝易茂祥方祥圣杨彬

计算机应用 2014, 34 (1): 36-40. DOI: 10.11772/j.issn.1001-9081.2014.01.0036

摘要（459）

PDF （833KB）（433）

为了减少测试应用时间并保证高测试数据压缩率,提出一种选择序列的并行折叠计数器。在分析并行折叠计算理论的基础上,通过记录表示折叠索引的组序号和组内序号生成选择状态的测试序列,避免了无用和冗余的测试序列的生成。ISCAS标准电路的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为94.48%,平均测试应用时间为类似方案的15.31%。

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2. 基于折叠集的低功耗测试

祝沈财蒋翠云梁华国叶益群张念

计算机应用

摘要（1393）

提出了一种利用折叠计数器特点，基于完全测试集的低功耗测试方案。方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障，然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量。在硬件上，采用一个地址计数器和随机访问扫描（RAS）结构相结合实现了并行的折叠控制。与传统的混合测试模式相比，克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题。实验结果表明，该方案能够有效降低测试功耗和测试时间。